دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques
دانلود کتاب تست VLSI: تکنیک های دیجیتال و ترکیبی آنالوگ / دیجیتال
مشخصات کتاب
VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques
ویرایش: 1
نویسندگان: Hurst. Stanley Leonard
سری: IEE circuits and systems series 9
ISBN (شابک) : 0852969015, 9780852969014
ناشر: Institution of Electrical Engineers
سال نشر: 1998
تعداد صفحات: 554
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 29 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 58,000
در صورت تبدیل فایل کتاب VLSI testing : digital and mixed analogue/digital techniques به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تست VLSI: تکنیک های دیجیتال و ترکیبی آنالوگ / دیجیتال نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب تست VLSI: تکنیک های دیجیتال و ترکیبی آنالوگ / دیجیتال
این کتاب که مقدمه و مرجعی جامع برای تمام جنبه های تست IC است، شامل کلیه مفاهیم و تئوری های اساسی لازم برای دانش آموزان پیشرفته از استراتژی های آزمون عملی و تمرین صنعتی گرفته تا جنبه های اقتصادی و مدیریتی تست می باشد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
A comprehensive introduction and reference for all aspects of IC testing, this book includes all of the basic concepts and theories necessary for advanced students, from practical test strategies and industrial practice, to the economic and managerial aspects of testing
فهرست مطالب
Content: * Chapter 1: Introduction * Chapter 2: Faults in digital circuits * Chapter 3: Digital test pattern generation * Chapter 4: Signatures and self test * Chapter 5: Structured design for testability (DFT) techniques * Chapter 6: Testing of structured digital circuits and microprocessors * Chapter 7: Analogue testing * Chapter 8: Mixed analogue/digital system test * Chapter 9: The economics of test and final overall summary * Appendices
