دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Optical scattering : measurement and analysis
دانلود کتاب پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل
مشخصات کتاب
Optical scattering : measurement and analysis
ویرایش: Second
نویسندگان: John C. Stover
سری: SPIE Press Monograph Vol. PM24
ISBN (شابک) : 0819419346, 081947844X
ناشر: SPIE Optical Engineering Press
سال نشر: 1995
تعداد صفحات: 326
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 20 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 55,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل: پراکندگی نور. نور -- انتشار
در صورت تبدیل فایل کتاب Optical scattering : measurement and analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل
این کتاب به عنوان منبع معتبر در مورد پراکندگی نوری، از سال ها
تدریس دوره های اندازه گیری و تجزیه و تحلیل پراکندگی نور به
مهندسان نوری تهیه شده است. دکتر استوور پراکندگی را پوشش می دهد
که از اصول اولیه آن شروع می شود و محاسبات زبری سطح پوشش، اندازه
گیری ها، ابزار دقیق، پیش بینی ها، مشخصات، و کاربردهای صنعتی را
پوشش می دهد. همچنین ضمیمه هایی گنجانده شده است که اصول
انتشار موج و پراش
کیرشهوف را بررسی می کند. چه در حال حاضر یک مهندس نوری باشید که
در حال بررسی مه ناشی از زبری در صنعت نیمه هادی ها هستید، یا به
تازگی وارد حوزه اندازه گیری پراکندگی شده اید، این متن ارزشمند
خواهد بود. � ادامه
مطلب...
چکیده:
چکیده:
این کتاب با تمرکز بر پراکندگی نوری، از سالها آموزش اندازه
گیری پراکندگی نور تهیه شده است. و دوره های آنالیز به مهندسان
نوری. این پراکندگی را پوشش می دهد که با اصول اولیه
و محاسبات زبری
سطح، اندازه گیری ها، ابزار دقیق، پیش بینی ها، مشخصات، و
کاربردهای صنعتی شروع می شود. �بیشتر بخوانید...
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
As the authoritative resource on optical scattering, this book
was developed from many years of teaching light-scatter
measurement and analysis courses to optical engineers. Dr.
Stover covers scattering beginning with its basics and covering
surface roughness calculations, measurements, instrumentation,
predictions, specifications, and industrial applications. Also
included are appendices that review the basics of wave propagation and Kirchhoff
diffraction. Whether you're an optical engineer currently
investigating roughness-induced haze in the semiconductor
industry, or just entering the field of scatter metrology, this
text will be invaluable. �Read
more...
Abstract:
Abstract:
Focusing on optical scattering, this book is developed from
many years of teaching light-scatter measurement and analysis
courses to optical engineers. It covers scattering beginning
with its basics and surface roughness
calculations, measurements, instrumentation, predictions,
specifications, and industrial applications.
�Read more...
فهرست مطالب
Content: Chapter 1. Introduction to light scatter: 1.1 The scattering of light --
1.2 Scatter from a smooth sinusoidal surface --
1.3 Scatter from other surfaces --
1.4 Scatter from windows and particulates --
1.5 Bidirectional scatter distribution functions --
1.6 Total integrated scatter --
1.7 Summary. Chapter 2. Surface roughness: 2.1 Profile characterization --
2.2 The surface power spectral--
Density and autocovariance functions --
2.3 Summary. Chapter 3. Scatter calculations and diffraction theory: 3.1. Overview --
3.2. Kirchhoff diffraction theory --
3.3. The Rayleigh approach --
3.4. Comparison of vector and scalar results --
3.5. Summary. Chapter 4. Calculation of smooth-surface statistics from the BRDF: 4.1. Practical application of the Rayleigh-Rice perturbation theory --
4.2. Roughness statistics of isotropic surfaces --
4.3. Roughness statistics of one-dimensional surfaces --
4.4. Roughness statistics for the general case --
4.5. The K-correlation surface power spectrum models --
4.6. The TIS derivation from the Rayleigh-Rice perturbation theory --
4.7. Summary. Chapter 5. Polarization of scattered light: 5.1. A review of polarization concepts --
5.2. The polarization factor Q --
5.3. Scattering vectors and matrices --
5.4. Summary. Chapter 6. Scatter measurements and instrumentation: 6.1. Scatterometer components --
6.2. Instrument signature --
6.3. Aperture effects on the measured BSDF --
6.4. Signature reduction and near-specular measurements --
6.5. The noise-equivalent BSDF --
6.6. Measurement of P. and instrument calibration --
6.7. Measurement of curved optics --
6.8. Coordinate systems and out-of-plane measurements --
6.9. Raster scans --
6.10. Measurement of retroreflection --
6.11. Alternate TIS devices --
6.12. Error analysis of the measured BSDF --
6.13. Summary. Chapter 7. Scatter predictions: 7.1. Optical surfaces: using the Rayleigh-Rice equation --
7.2. Rough surfaces --
7.3. Partial data sets --
7.4. Scatter from diffuse samples --
7.5. BRDF standard surfaces --
7.6. Software for prediction of scatter in optical systems --
7.7. Summary. Chapter 8. Detection of Discrete Surface and Subsurface Defects: 8.1. Polarization effects associated with defect scatter --
8.2. Bulk defects in transparent optics --
8.3. Near-point-scatter sources and differential-scattering cross section --
8.4. Nontopographic defects in opaque materials --
8.5. Summary. Chapter 9. Industrial applications: 9.1 Semiconductor applications --
9.2. Computer disks --
9.3. Contamination measurement by wavelength discrimination --
9.4. General manufacturing examples --
9.5. Summary. Chapter 10. Scatter specifications: 10.1 Generic specifications --
10.2. Calculation of specifications for several examples --
10.3. Summary --
Appendix A. Review of electromagnetic wave propagation --
A. 1 The wave equation --
A.2 Electromagnetic plane waves in free space --
A.3 Plane waves in a dielectric --
A.4 Plane waves.in a conducting medium --
Appendix B. Kirchhoff diffraction from sinusoidal gratings --
Appendix C. BSDF data --
Bibliography --
Index.
