دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Embedded mechatronic systems. / Volume 1, Analysis of failures, predictive reliability
دانلود کتاب سیستم های مکاترونیک تعبیه شده / جلد 1، تجزیه و تحلیل خرابی، قابلیت اطمینان پیش بینی
مشخصات کتاب
Embedded mechatronic systems. / Volume 1, Analysis of failures, predictive reliability
ویرایش: 1 نویسندگان: El Hami. Abdelkhalak, Pougnet. Philippe سری: ISBN (شابک) : 1785480138, 0081004842 ناشر: ISTE Press - Elsevier سال نشر: 2015 تعداد صفحات: 248 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 44 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 46,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Embedded mechatronic systems. / Volume 1, Analysis of failures, predictive reliability به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب سیستم های مکاترونیک تعبیه شده / جلد 1، تجزیه و تحلیل خرابی، قابلیت اطمینان پیش بینی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب سیستم های مکاترونیک تعبیه شده / جلد 1، تجزیه و تحلیل خرابی، قابلیت اطمینان پیش بینی
توسعه راه هایی برای توصیف پدیده های فیزیکی و شیمیایی
شناسایی مکانیسم های خرابی اجزای این دستگاه ها
تجزیه و تحلیل فیزیکی و شیمیایی مکانیسم های شکست، به ترتیب
اهمیت
مکانیسم های شکست مدل و بهینه سازی طراحی
در حین کار، سیستم‌های تعبیه‌شده مکاترونیک به دلایل مختلف تحت فشار قرار می‌گیرند: آب و هوا (دما، رطوبت)، ارتعاش، الکتریکی و الکترومغناطیسی. این تنش‌ها در اجزایی که مکانیسم‌های خرابی را القا می‌کنند باید شناسایی و برای کنترل بهتر مدل‌سازی شوند. AUDACE یک پروژه مشترک از خوشه Mov'eo است که به مسائل خاص سیستم های تعبیه شده قابلیت اطمینان مکاترونیک می پردازد. AUDACE به معنی تجزیه و تحلیل علل خرابی اجزای سیستم های مکاترونیک روی برد است. هدف این پروژه بهینه سازی طراحی دستگاه های مکاترونیک با قابلیت اطمینان است.
این پروژه آزمایشگاه های بخش دولتی را که در تجزیه و تحلیل و مدل سازی خرابی تخصص دارند، گروه های اصلی مکاترونیک (Valeo و Thales) را گرد هم می آورد. خودروسازی و هوافضا و شرکت‌های کوچک و متوسط که مهارت‌هایی در تست‌های تعیین مشخصات و اعتبار دارند
این کتاب به شما کمک می‌کند تا: استحکام و قابلیت اطمینان دستگاه های پیچیده مکاترونیک
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
In operation, mechatronics embedded systems are stressed by loads of different causes: climate (temperature, humidity), vibration, electrical and electromagnetic. These stresses in components which induce failure mechanisms should be identified and modeled for better control. AUDACE is a collaborative project of the cluster Mov'eo that address issues specific to mechatronic reliability embedded systems. AUDACE means analyzing the causes of failure of components of mechatronic systems onboard. The goal of the project is to optimize the design of mechatronic devices by reliability.
The project brings together public sector laboratories that have expertise in analysis and modeling of failure, major groups of mechatronics (Valeo and Thales) in the automotive and aerospace and small and medium enterprises that have skills in characterization and validation tests
This book helps you to:
- Find and develop ways to characterize and validate the design robustness and reliability of complex mechatronic devices
- Develop ways to characterize physical and chemical phenomena
- Identify mechanisms of failure of components of these devices
- Analyze the physical and chemical mechanisms of failure, in order of importance
- Model failure mechanisms and design optimization
فهرست مطالب
Content:
Front matter,Copyright,PrefaceEntitled to full text1 - Reliability-Based Design Optimization, Pages 1-25
2 - Non-Destructive Characterization by Spectroscopic Ellipsometry of Interfaces in Mechatronic Devices, Pages 27-56
3 - Method of Characterizing the Electromagnetic Environment in Hyperfrequency Circuits Encapsulated within Metallic Cavities, Pages 57-77
4 - Metrology of Static and Dynamic Displacements and Deformations Using Full-Field Techniques, Pages 79-118
5 - Characterization of Switching Transistors under Electrical Overvoltage Stresses, Pages 119-139
6 - Reliability of Radio Frequency Power Transistors to Electromagnetic and Thermal Stress, Pages 141-164
7 - Internal Temperature Measurement of Electronic Components, Pages 165-184
8 - Reliability Prediction of Embedded Electronic Systems: The FIDES Guide, Pages 185-211
9 - Study of the Dynamic Contact between Deformable Solids, Pages 213-232
List of Authors, Pages 233-234
Index, Pages 235-236
Summary of Volume 2: Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization, Pages 237, 239-245
